|
Recientemente, el doctor Guillermo Kaufmann, director del CIFASIS-CONICET e investigador del IFIR-CONICET, editó el libro Advances in Speckle Metrology and Related Techniques (Adelantos en Metrología de Speckle y Técnicas Relacionadas) publicado por la editorial Wiley-VCH.
El láser es una fuente de luz que es intensa, colimada y monocromática. Sin embargo, su alta coherencia también contribuye a la generación de un efecto secundario que está caracterizado por la aparición de distribuciones de granos oscuros y brillantes. Este fenómeno se denomina en inglés speckle (punteado). En los primeros años después de la invención del láser, los esfuerzos estuvieron orientados a minimizar este ruido óptico. Pero rápidamente, estos desarrollos modificaron su orientación cuando se descubrió que las distribuciones de speckle podían usarse para codificar información.
Las diversas técnicas ópticas basadas en dicho fenómeno dieron origen a la denominada metrología de speckle, la cual se ha convertido en una herramienta de gran utilidad para analizar de forma no destructiva diferentes materiales y componentes mecánicas. Durante la última década, dichos métodos han cambiado dramáticamente debido al desarrollo de nuevas componentes ópticas y electro-ópticas, de computadoras digitales de alta velocidad y de modernos algoritmos para el procesamiento de datos. Este volumen describe los desarrollos realizados en el campo de la metrología de speckle durante los últimos diez años, así como sus aplicaciones en mecánica experimental, estudio de materiales, ensayos ópticos, análisis de franjas y seguridad de datos digitales.
|
